廣皓天中科院聯(lián)合發(fā)布：AI 溫控高低溫濕熱試驗箱破解芯片耐候性難題
點擊次數(shù)：42 更新時間：2025-06-27
今日，廣皓天檢測儀器有限公司與中國攜手，共同發(fā)布了一款 AI 溫控高低溫濕熱試驗箱，旨在攻克芯片在復(fù)雜環(huán)境下的耐候性難題。這一創(chuàng)新成果將為芯片行業(yè)的可靠性測試帶來革命性變化，有望推動我國芯片技術(shù)的進一步發(fā)展。
隨著芯片技術(shù)的不斷進步，芯片在各類電子產(chǎn)品中的應(yīng)用愈發(fā)廣泛，從智能手機到工業(yè)控制，從汽車電子到航空航天，幾乎無處不在。然而，芯片的性能和可靠性在不同的環(huán)境條件下，如高溫、低溫、高濕等，面臨著嚴峻挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的高低溫濕熱試驗箱在溫度和濕度控制的精度、穩(wěn)定性以及對復(fù)雜環(huán)境的模擬能力上，已難以滿足芯片行業(yè)日益增長的需求。
此次廣皓天與中科院強強聯(lián)合，基于中科院在科研領(lǐng)域的深厚積累和廣皓天在檢測設(shè)備制造方面的豐富經(jīng)驗，研發(fā)出的 AI 溫控高低溫濕熱試驗箱具有諸多特性。在溫度控制方面，運用AI 算法與高精度傳感器，實現(xiàn)了 - 70℃至 150℃的超寬溫度范圍精準調(diào)節(jié)，控溫精度可達 ±0.1℃，相比傳統(tǒng)設(shè)備提升了數(shù)倍，能更精確地模擬芯片在溫度環(huán)境下的工作狀態(tài)。濕度控制同樣，調(diào)節(jié)范圍為 10% RH - 98% RH，精度穩(wěn)定在 ±1% RH，為芯片的耐濕性能測試提供了可靠保障。
值得一提的是，該試驗箱的 AI 智能系統(tǒng)能夠根據(jù)芯片的類型、測試需求以及過往測試數(shù)據(jù)，自動優(yōu)化試驗方案，預(yù)測試驗結(jié)果，并實時調(diào)整試驗參數(shù)，極大地提高了測試效率與準確性。例如，在對某款 5G 芯片進行測試時，AI 系統(tǒng)通過分析芯片的結(jié)構(gòu)和材料特性，提前優(yōu)化了溫濕度變化曲線，使原本需要數(shù)周的測試周期縮短至一周以內(nèi)，且測試結(jié)果的準確性得到顯著提升。
中科院相關(guān)研究人員表示：“這款試驗箱的研發(fā)成功，是產(chǎn)學研合作的重要成果。其創(chuàng)新的 AI 溫控技術(shù)，不僅能更真實地模擬芯片在各種復(fù)雜環(huán)境中的工況，還能通過智能分析為芯片的設(shè)計優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持，有助于提升我國芯片的整體性能與可靠性。"
廣皓天檢測儀器有限公司總經(jīng)理也指出：“我們一直致力于為各行業(yè)提供檢測解決方案。此次與中科院合作推出的 AI 溫控高低溫濕熱試驗箱，是我們邁向檢測設(shè)備領(lǐng)域的重要一步。未來，我們將繼續(xù)加大研發(fā)投入，與科研機構(gòu)緊密合作，為更多行業(yè)的技術(shù)創(chuàng)新提供有力支撐。"
隨著這款 AI 溫控高低溫濕熱試驗箱的投入市場，預(yù)計將對芯片行業(yè)的研發(fā)、生產(chǎn)以及質(zhì)量控制產(chǎn)生深遠影響，助力我國芯片產(chǎn)業(yè)突破技術(shù)瓶頸，在競爭中占據(jù)更有利的地位。
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